PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM力電一體測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM低溫電學(xué)測量系統可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

PicoFemto透射電鏡原位高溫力學(xué)測量系統，同時(shí)集成了力學(xué)測量模塊及MEMS芯片模塊，可以在對樣品1000 ℃加熱的同時(shí)進(jìn)行定量的力學(xué)測量。

PicoFemto原位MEMS-STM-TEM多場(chǎng)測量系統是原位透射電子顯微鏡實(shí)驗系統，使研究者可以在透射電子顯微鏡中構建一個(gè)可控的多場(chǎng)環(huán)境（包括力、熱、光、電等），從而對材料或者器件等樣品實(shí)現多重激勵下的原位表征。