PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM光電一體測量系統，是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

SEM冷凍真空傳輸系統高匹配360°(無(wú)限)旋轉冷臺，冷臺傾轉角度55°，冷臺溫度≤180℃。

SEM熱電芯片臺可搭配電學(xué)測試，兼容型號掃描電鏡，芯片兼容TEM-MEMS原位芯片樣品桿。

PicoFemto掃描電鏡SEM納米力測量系統可以實(shí)現包括原位力/熱耦合、力/光耦合、力/電耦合、力/熱/晶體取向耦合等多場(chǎng)耦合研究。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現1 Bar & 800 ℃的端觀(guān)測條件。