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    ZEM20臺式掃描電子顯微鏡

    產(chǎn)品簡(jiǎn)介

    ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便,僅需鼠標即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調節光闌。

    產(chǎn)品型號:
    更新時(shí)間:2024-05-08
    廠(chǎng)商性質(zhì):代理商
    訪(fǎng)問(wèn)量:120

    ZEM20臺式掃描電子顯微鏡操作簡(jiǎn)便,僅需鼠標即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調節光闌。

    信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品。

    豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等)。

    ZEM20臺式掃描電子顯微鏡參數:

    環(huán)境要求:AC 220V,50Hz,1kW,無(wú)需減震臺

    加速電壓:3kV~20kV連續可調,1kV步進(jìn)

    電子槍?zhuān)侯A對中鎢燈絲,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調節物鏡光闌,可選配LaB6燈絲

    放大倍數: 200 -- 360000倍

    探測器:二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀

    樣品臺行程:

    三軸:X: 54mm, Y: 60mm & Z軸電動(dòng)模塊27mm

    五軸樣品臺:X:90mm, Y:50mm, Z:32mm, R:360°,T:-10°-90°

    減速模式:標配0-10KV樣品臺高壓減速

    超大樣品艙:長(cháng)185mm*寬176mm *高125mm

    樣品尺寸:

    兩軸:120mm * 100 mm、高度75mm

    五軸:120mm * 100 mm、高度32mm

    工作距離:5-80mm

    真空模式:

    高真空模式:抽真空時(shí)間小于30s 

    低真空模式:選配,低真空1-100Pa自動(dòng)控制

    成像模式:

    視頻模式:512x 512像素,無(wú)需小窗口掃描;

    快速模式:掃描時(shí)間小于3秒,512 x 512像素;

    慢掃模式:掃描時(shí)間小于40秒,2048 × 2048像素;

    圖像格式:BMP, TIFF,JPEG,PNG

    導航功能:光學(xué)CCD導航,艙內攝像頭,可實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品艙內情況

    整機尺寸:主機:長(cháng)650mm *寬370mm*高642mm; 機械泵:454mm*165mm*252mm

    軟件升級:自動(dòng)亮度對比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、大圖拼接

    拓展功能:兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺(拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統)。

    產(chǎn)品特色:

    操作簡(jiǎn)便: 僅需鼠標即可完成所有操作,一體式聚光鏡,無(wú)需手動(dòng)調節光闌。

    成像快速: 抽真空時(shí)間小于30s,光學(xué)導航&艙內攝像頭,支持快速找樣,樣品艙實(shí)時(shí)觀(guān)察,軟件支持自動(dòng)亮度對比度、自動(dòng)聚焦、自動(dòng)消像散、大圖拼接。

    顯示流暢: 信號采集帶寬高達10M,掃描速度快,視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品,無(wú)重影、拖影,不錯過(guò)每一個(gè)細節。

    信號多樣: 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀等多種探測器。(SE+BSE模式:同時(shí)采集,任意疊加)。

    性能突出:加速電壓連續可調,標配樣品臺減速功能,選配低真空模式,超大樣品艙,適應多種類(lèi)型樣品和原位測試功能。

    體積小巧:無(wú)需特裝設備間和額外減震臺,常規市電即插即用。

    原位拓展:豐富的原位拓展功能,可兼容自研原位電鏡附件(拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等)。

    售后無(wú)憂(yōu): 國內自主研發(fā),提供完備的高性?xún)r(jià)比售后服務(wù)。廠(chǎng)家在北京、上海、安徽、東莞等多個(gè)辦事處提供樣機demo服務(wù)。

    ZEM20 臺式掃描電子顯微鏡

    ZEM20 臺式掃描電子顯微鏡 

    可拓展原位電鏡附件列表:

    SEM芯片加熱臺,SEM加熱爐,SEM電池臺,SEM液體電化學(xué)臺,SEM氣體臺,SEM拉伸臺,SEM-TEC冷臺,SEM液氮冷臺,SEM電學(xué)探針臺,SEM通光等掃描電鏡原位測試系統。


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