ZEM18臺式掃描電子顯微鏡

ZEM18臺式掃描電子顯微鏡信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯過(guò)每一個(gè)細節。兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）。

ZEM18臺式掃描電子顯微鏡參數：

環(huán)境要求：AC 220V，50Hz，1kW，無(wú)需減震臺

加速電壓：3kV~18kV連續可調，1kV步進(jìn)

電子槍?zhuān)侯A對中鎢燈絲，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調節物鏡光闌

放大倍數：500 --150000倍

探測器：二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀

樣品臺行程：XY 兩軸電動(dòng) 行程：30 mm×30 mm

樣品尺寸：Φ50×35（H）mm

工作距離：5-35mm

真空模式

高真空模式：抽真空時(shí)間小于90s

低真空模式：選配，低真空1-100Pa自動(dòng)控制

成像模式

視頻模式：512x 512像素，無(wú)需小窗口掃描；

快速模式：掃描時(shí)間小于3秒，512 x 512像素；

慢掃模式：掃描時(shí)間小于40秒，2048 × 2048像素；

圖像格式：BMP, TIFF,JPEG,PNG

導航功能：光學(xué)CCD導航

自動(dòng)功能：一鍵自動(dòng)配置亮度、對比度、聚焦

尺寸：主機283×553×505 mm  機械泵340×160×140 mm

拓展功能：兼容澤攸科技多種原位功能樣品臺（拉伸臺、加熱臺、TEC冷臺等原位測試系統）

產(chǎn)品特色

操作簡(jiǎn)便： 僅需鼠標即可完成所有操作，一體式聚光鏡，無(wú)需手動(dòng)調節光闌

成像快速： 抽真空時(shí)間小于90s，

顯示流暢： 信號采集帶寬高達10M，掃描速度快，視頻模式下實(shí)時(shí)觀(guān)察樣品，無(wú)重影、拖影，不錯過(guò)每一個(gè)細節

信號多樣： 二次電子探測器、四分割背散射電子探測器、集成式能譜儀等多種探測器。（SE+BSE模式：同時(shí)采集，任意疊加）

性能突出：加速電壓連續可調，選配低真空模式，適應多種類(lèi)型樣品和原位測試功能

體積小巧：無(wú)需特裝設備間和額外減震臺，常規市電即插即用

原位拓展：豐富的原位拓展功能，可兼容自研原位電鏡附件（拉伸樣品臺、加熱臺、TEC冷臺等）

售后無(wú)憂(yōu)： 國內自主研發(fā)，提供完備的高性?xún)r(jià)比售后服務(wù)。廠(chǎng)家在北京、上海、安徽、東莞等多個(gè)辦事處提供樣機demo服務(wù)。

產(chǎn)品附件：

(1)拉伸臺

技術(shù)參數：

(2)TEC冷臺

技術(shù)參數：

1、溫度范圍：-60℃--50℃

2、功率：~45W

3、控溫精度：±0.01℃

4、高精度溫控儀，搭配相應軟件，數據可一鍵導出

應用案例：

                                        原材料檢測                                                   工業(yè)檢測

                                     電子元器件檢測                                        其他樣檢測