PicoFemto掃描電鏡原位高溫拉伸臺集成了力學(xué)拉伸模塊以及高溫環(huán)境模塊，可以實(shí)現在掃描電鏡中對樣品原位加熱的同時(shí)進(jìn)行拉伸實(shí)驗。本產(chǎn)品采用新一代的高溫拉伸方案，加熱臺直接貼緊樣品，保證了溫度的準確度和穩定性。

掃描電鏡原位氣氛加熱環(huán)境測量系統將MEMS氣氛環(huán)境微腔和加熱模塊集成到掃描電鏡樣品臺上，在掃描電鏡中制造可控的氣氛環(huán)境并且可以對實(shí)驗樣品原位加熱。

PicoFemto掃描電鏡原位液體-電化學(xué)測量系統采用全新的O圈輔助密封設計，攻克了以往原位液體解決方案裝樣困難的問(wèn)題。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS液體電化學(xué)測量系統，采用全新的O圈輔助密封設計，更易封裝液體。

PicoFemto透射電鏡原位MEMS氣氛加熱測量系統，在透射電子顯微鏡中制造氣氛及高溫環(huán)境，實(shí)現1 Bar & 800 ℃的端觀(guān)測條件。

PicoFemto透射電鏡原位STM-TEM電學(xué)測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內加裝掃描探針控制單元，通過(guò)探針對單個(gè)納米結構進(jìn)行操縱和電學(xué)測量，并可在電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。