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產(chǎn)品中心光鏡及電鏡制樣設備PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿
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PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀(guān)測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結構。
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PicoFemto透射電鏡TEM冷凍樣品桿，TEM冷凍樣品桿可以使被觀(guān)測樣品處于液氮低溫下，減弱了電子束輻照對樣品的損傷，同時(shí)也能研究材料的低溫結構。透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學(xué)測量芯片。微加熱芯片可對樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測量芯片可對樣品進(jìn)行電性質(zhì)測量。并可在進(jìn)行加熱和電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。
TEM冷凍樣品桿性能指標：
● 兼容型號電鏡及極靴；
● 保證電鏡真空度；
● 溫度變化范圍：低至85 K；
● 可選高傾角版本。
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