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技術(shù)文章
TECHNICAL ARTICLES利用這種技術(shù),可以快速、無(wú)損地測量密封前后釋放膜的撓度
在用于生物應用的納米壓力傳感器的制造中,犧牲層蝕刻和由真空間隙分隔開(kāi)的兩個(gè)膜的密封,以形成 Fabry-Pérot 諧振器,這些都是至關(guān)重要的因素。
知道在制造過(guò)程之后膜片初始撓曲的確切時(shí)間同樣也是關(guān)鍵。
圖 1.制成的壓力傳感器的 SEM 圖像(條形刻度 1 µm)
壓力傳感器是一個(gè) 6×10 µm 的芯片,包括一個(gè)由兩個(gè)被真空間隙隔開(kāi)的多晶硅膜和一個(gè)光學(xué)參考區域限定的機械傳感器。
薄膜起平行反射鏡的作用,構成 Fabry-Pérot 諧振器 ,對某些波長(cháng)部分透明。 外部壓力 P 使薄膜偏斜并使間隙發(fā)生改變。該器件旨在測量活體細胞不同成分內部的壓力變化。
圖 2.未塌陷膜(頂部)的的器件和塌陷膜(底部)的器件(條形刻度為 1 µm)
當前,膜撓度會(huì )在內部化之前先使用掃描電子顯微鏡 (SEM) 進(jìn)行測量,但是在 SEM 中,樣品必須處于真空壓力下,這可能會(huì )改變其初始狀態(tài)。
使用 Sensofar 光學(xué)輪廓儀,我們能夠以快速、非侵入性的方式測量制造后的膜撓度。芯片尺寸只有幾微米,但是膜的曲率更接近幾十納米,因此必須使用高倍率的透鏡
圖 3.幾個(gè)壓力傳感器的輪廓分析
圖 4.從基板釋放之前壓力傳感器陣列的 3D 形貌
利用這種技術(shù),我們可以快速、無(wú)損地測量密封前后釋放膜的撓度,以檢查膜是否塌陷。以前檢查膜是否塌陷必須借助 SEM,但這會(huì )因真空而導致膜撓度發(fā)生變化,并且撓度值也不十分可靠。
這些測量是通過(guò) Plµ 2300 使用具有 100 倍明場(chǎng)物鏡的共聚焦技術(shù)獲得的。 Sensofar 設備提供基于三種技術(shù)的非接觸式 3D 表面輪廓儀:共聚焦、干涉測量和多焦面疊加技術(shù)。Sensofar 設備可以實(shí)現快速且無(wú)損的高分辨率測量,并且可根據需要通過(guò)用戶(hù)友好的軟件提供技術(shù)支持。
圖 5. 6x10 µm 釋放壓力傳感器的 3D 形貌
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