PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿

PicoFemto透射電鏡原位拉伸樣品桿，可在室溫條件下對材料施加拉力，結合透射電鏡原位觀(guān)察材料結構的變化。

本套系統包括：?jiǎn)蝺A拉伸樣品桿、拉伸控制器、專(zhuān)用拉伸樣品載片。 應用方向：研究金屬材料、納米材料、薄膜等的力學(xué)變化機制。

 透射電子顯微鏡原位加熱/電學(xué)測量系統是在標準外形的透射電鏡樣品桿內安裝MEMS工藝制成的微加熱芯片和電學(xué)測量芯片。微加熱芯片可對樣品進(jìn)行可控溫度的加熱，電學(xué)測量芯片可對樣品進(jìn)行電性質(zhì)測量。并可在進(jìn)行加熱和電學(xué)測量的同時(shí)，動(dòng)態(tài)、高分辨地對樣品的晶體結構、化學(xué)組分、元素價(jià)態(tài)進(jìn)行綜合表征，大大地擴展了透射電子顯微鏡的功能與應用領(lǐng)域。

● 適用于Thermofisher（FEI）、JEOL、Hitachi、Zeiss品牌透射電鏡

● 兼容類(lèi)型極靴

● 保證透射電鏡原有分辨率

● 拉伸位移：2 mm

● 拉伸速率：0.2 um-50 um/s

● 拉伸步長(cháng)：小于100nm

• 部分國內用戶(hù)

  

  部分國外用戶(hù)