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    Sensofar 榮獲 Photonics Spectra 雜志評選的 2004 光電學(xué)界杰出成就獎

    更新時(shí)間:2024-05-29點(diǎn)擊次數:48

    Sensofar 榮獲 Photonics Spectra 雜志評選的 2004 光電學(xué)界杰出成就獎

    Sensofar 榮獲 Photonics Spectra 雜志評選的光電學(xué)界杰出成就獎

    Sensofar-Tech, SL 榮獲光電學(xué)界杰出成就獎,該獎項僅授予“年度最佳技術(shù)創(chuàng )新產(chǎn)品"。頒獎典禮將在美國西部光電展期間于在美國加利福尼亞州圣何塞的費爾蒙酒店舉行。

    Sensofar 憑借其創(chuàng )新的光學(xué)輪廓儀PLµ 2300 獲得認可。該光學(xué)輪廓儀的技術(shù)包括擁有雙重技術(shù)的傳感器頭,結合了用于非接觸式測量技術(shù)表面的微幾何和納米幾何結構的共聚焦和干涉技術(shù)。

    使用光學(xué)輪廓儀PLµ 2300 上的微顯示技術(shù)和高功率LED 照明是在非接觸式光學(xué)輪廓測量方面的重大突破。PLµ 2300 將共聚焦顯微鏡、相位差干涉和白光干涉結合,為各種應用提供完整的解決方案,例如:高寬高比和高斜率樣本(MEMS)、低反射率和粗糙的表面(紙張)、不同材料樣本的納米粗糙度和納米特性(半導體行業(yè))或光滑和低反射率光學(xué)表面的高局部斜率(微光學(xué)/顯微鏡頭)等等。

    Sensofar 榮獲 Photonics Spectra 雜志評選的 2004 光電學(xué)界杰出成就獎

    該產(chǎn)品結合了多項創(chuàng )新技術(shù),優(yōu)于所有現有的系統。此外,PLµ 2300 還擁有緊湊且堅固的設計,使其成為一套完整的工具,十分適合快速、無(wú)損地評估各種表面的微米和納米幾何結構:從研發(fā)和質(zhì)量檢驗實(shí)驗室的標準建設到針對在線(xiàn)流程控制和OEM 應用的控制器或由機器人操縱的系統。

    “我們很榮幸能獲此殊榮。我們相信獲此獎項是對我們持續努力的創(chuàng )新工作的認可。"Sensofar 總裁Ferran Laguarta 先生如此說(shuō)道,“光電學(xué)界杰出成就獎同樣是對我們公司市場(chǎng)地位的肯定,將幫助我們獲得30% 的多功能光學(xué)輪廓儀。"





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