光學(xué)測量系統在表面測量和坐標測量中有著(zhù)廣泛的應用。這些系統速度快，分辨率高，可在非接觸和非破壞性模式下操作；這些方面對于未來(lái)的工廠(chǎng)至關(guān)重要。然而，光學(xué)測量往往是不可追溯的，由于被測對象和測量系統之間的相互作用的復雜性。該項目旨在改善測量基礎設施，以實(shí)現可追溯的工業(yè)三維粗糙度測量以及形狀和尺寸，并為最終用戶(hù)提供指導，從而支持尺寸測量在工業(yè)中的成功實(shí)施。

Sen far 旨在利用他在光學(xué)計量學(xué)方面的豐富經(jīng)驗和他在工業(yè)市場(chǎng)的深厚知識，通過(guò)以下方式為這個(gè)項目做出貢獻：

向聯(lián)合會(huì )表達對粗糙度、波紋度、形狀或尺寸光學(xué)測量的需求
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