Sensofar 副總裁參與制定新的 ISO 25178 標準

Artigas 博士正全身心地投入在新ISO 25178 標準：產(chǎn)品幾何量技術(shù)規范（GPS）——表面結構：區域的制定工作中。ISO 25178將是將3D 表面測量方法的規范和測量納入考量的國際標準，并將包含目前適用于非接觸式測量方法且行業(yè)常用的標準，而之前的標準在ISO 9000質(zhì)量體系框架中至今一直缺少支持質(zhì)量審查的標準。

新標準包含七個(gè)章節，由NIST（美國國家標準技術(shù)研究所）、NPL（英國國家物理實(shí)驗室）和PTB（德國聯(lián)邦物理技術(shù)研究院）等眾多科學(xué)機構編寫(xiě)制定。

ISO 25178 標準包括有關(guān)3D 測量的基本定義以及可根據不同現有技術(shù)的分類(lèi)計算的主要參數。第6 章的主要內容是普遍用于測量表面的方法和技術(shù)的分類(lèi)，其中Artigas 博士具體描述了成像共聚焦顯微鏡（ICM）的方法。